固體電介質(zhì)電擊穿的理論是以在介質(zhì)中發(fā)生碰撞電離為基礎(chǔ)的。它不包括由邊緣效應(yīng)、介質(zhì)劣化等因素引起的擊穿。
固體電介質(zhì)的中間存在少量處于導(dǎo)電能量狀態(tài)的電子(傳導(dǎo)電子)。它在電場加速下將與晶格點(diǎn)上的原子碰撞,但因固體介質(zhì)中的原子相互聯(lián)系十分緊密,所以必須考慮傳導(dǎo)電子與晶格碰撞。
由碰撞電離引起擊穿有下述兩種解釋:固體擊穿理論是考慮單位時間傳導(dǎo)電子從電場中獲得的能量與單位時間內(nèi)由于碰撞而失去的能量之間,因不平衡而引起擊穿;另一種擊穿理論則認(rèn)為:傳導(dǎo)電子由電場作用得到了可使晶格原子電離的能量,產(chǎn)生了電子崩,當(dāng)電子崩發(fā)展到足夠強(qiáng)時,引起固體電介質(zhì)擊穿。
電壓擊穿的特點(diǎn):電壓作用時間短,擊穿電壓高,電介質(zhì)溫度不高;擊穿場強(qiáng)與電場均勻程度有密切關(guān)系,而與周圍環(huán)境溫度的高低幾乎無關(guān)。
電壓擊穿試驗儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時間的測試。
華測電壓擊穿試驗儀采用計算機(jī)控制,可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、采集、處理,并可存取、顯示、打印。
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